选择晶体结构（FCC/BCC/SC/HCP/金刚石），设置X射线波长，实时计算允许反射、d间距、2θ角、Scherrer峰宽。衍射花样可视化。
| # | hkl | d (Å) | 2θ (°) | B (°) | 强度 |
|---|
Bragg定律：$2d_{hkl}\sin\theta = \lambda$
面间距（立方晶）：$$d_{hkl}=\frac{a}{\sqrt{h^2+k^2+l^2}}$$
Scherrer式：$$B = \frac{K\lambda}{L\cos\theta}$$（K=0.9）
新材料研发与鉴定：合成出的未知粉末样品通过XRD测量，对比数据库或用本工具计算的结果，可以确定物质的成分和晶体结构。这对新电池材料的纯度评估至关重要。
纳米材料特性评估：利用Scherrer公式评估纳米粒子和薄膜的晶粒尺寸。在催化剂材料中，粒径直接决定性能，XRD衍射峰宽测量是标准手段。
残留应力测量：晶体受应力时格子常数会改变，导致衍射峰位移。精密测量这个位移可以无损评估材料内部的残留应力。焊接部件检测中频繁使用。
薄膜结构分析：评估基底上生长的薄膜的晶体取向和格子常数。半导体工艺中，外延薄膜的质量控制依赖XRD测量。
使用这个工具时，容易踩的坑有几个。首先是混淆"晶格常数a"和"晶粒尺寸L"。晶格常数是相邻原子间的距离（单位胞大小），单位是Å（埃）；而晶粒尺寸L是有序结晶区域的广延性，通常以nm（纳米）计。例如，铝的晶格常数约3.6Å，但一个纳米粒子的L可能只有10nm（=100Å），两个完全不同的量级。
其次，Scherrer式不是万能的。改变工具中的L确实会改变峰宽，但实测的峰宽还受仪器分辨率和晶体应变的影响很大。从实验峰宽反推L时，通常需要用"Williamson-Hall作图法"来分离应变的贡献，这不是简单的反演就能解决。
最后，计算出的2θ是理想值。真实测量中，样品吸收、表面粗糙度、仪器零点偏差等都会导致峰位偏移几分之一度。做相定位时，要关注峰的"相对位置关系"而不是绝对值。比如看FCC结构(111)和(200)峰的2θ比例关系，而不是单个峰的精确值。
Fe-γFe钢（FCC结构、a=3.65Å）用Cu Kα（λ=1.5406Å）照射的情况：(111)面的d间距为3.65/√3=2.108Å，2θ=2arcsin(1.5406/2×2.108)≈42.8°出现峰。(200)面d=2.108Å时2θ=50.9°，(220)面d=1.291Å时2θ=73.2°出现。晶粒尺寸50nm时，峰宽B≈0.15°，与Scherrer常数K=0.9的计算相符。