传导发射分析

分类: 電磁場解析 / EMC | 综合版 2026-04-11
Conducted emission spectrum with LISN measurement model and CM/DM noise separation diagram
伝導エミッション解析 — LISNモデルとCM/DMノイズスペクトルの可視化

理论与物理

概述 — 什么是传导发射

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传导发射是指噪声从电源线泄漏出来的那个吗?

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是的。指的是通过电子设备的电源线或信号线传导到外部的噪声电流。通常在150kHz至30MHz的频率范围内进行测量,并使用一种称为LISN(线路阻抗稳定网络)的标准化阻抗网络进行评估。

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为什么是150kHz到30MHz这个范围呢?

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因为低于150kHz时,频率接近电源的基本工作频率,难以分离;而超过30MHz时,电缆开始表现出天线特性,进入辐射发射(RE)的领域。也就是说,传导EMI和辐射EMI在频率上是分开的。

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具体来说,哪些产品会出现问题呢?

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几乎所有搭载开关电源的产品都会。例如,电动汽车的车载充电器(OBC)中,48V转400V的DC-DC转换器以大约100kHz的开关频率工作,其谐波会直接覆盖150kHz频段。设计目标通常是以6dB的裕量通过CISPR 25的Class 5标准。

传导发射(CE: Conducted Emission)是评估电子设备通过电源线、信号线传导的噪声电流的EMC测试项目。以下是标准的主要适用范围。

标准适用领域频率范围代表性限值等级
CISPR 25车载电子设备150kHz〜108MHzClass 1〜5(5为最严格)
CISPR 32IT・多媒体设备150kHz〜30MHzClass A/B
CISPR 11工业、科学、医疗设备150kHz〜30MHzGroup 1/2, Class A/B
MIL-STD-461G CE102军用设备10kHz〜10MHz-

LISN(线路阻抗稳定网络)模型

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经常听到LISN,它的工作原理是什么?

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LISN(线路阻抗稳定网络)有两个作用。一是在测量频段内,将被测设备(DUT)看到的电源阻抗稳定在50Ω。二是阻断来自外部电源的噪声,使测量稳定。

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稳定到50Ω,具体是怎么做的?

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CISPR 16-1-2规定的标准LISN电路,是用50μH的电感端接电源线,并通过耦合电容(0.1μF〜1μF)连接到频谱分析仪的50Ω输入端的结构。在150kHz以上时,50μH电感的阻抗变得足够高,从DUT侧看到的阻抗主要由50Ω决定。

LISN测得的端子电压 $V_\text{LISN}$ 由下式表示:

$$ V_\text{LISN} = Z_\text{LISN}(f) \cdot I_\text{noise}(f) $$

其中 $Z_\text{LISN}(f)$ 是频率相关的LISN阻抗。标准LISN(50Ω/50μH型)的阻抗可以近似为:

$$ Z_\text{LISN}(f) = \frac{R \cdot j\omega L}{R + j\omega L} = \frac{50 \cdot j\omega \cdot 50 \times 10^{-6}}{50 + j\omega \cdot 50 \times 10^{-6}} $$

其中 $R = 50\,\Omega$,$L = 50\,\mu\text{H}$,$\omega = 2\pi f$。在150kHz时,$|Z_\text{LISN}| \approx 43\,\Omega$;在1MHz以上时,$|Z_\text{LISN}| \approx 50\,\Omega$。

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在仿真中如何对LISN进行建模?

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基本方法是将其作为L-R并联电路,并串联一个用于直流阻断的耦合电容(0.1μF)的SPICE模型。不过,对于高精度分析,还需要将LISN的寄生参数(自谐振频率、连接器接触电阻、接地阻抗)也包含在模型中。最佳实践是从实测数据获取S参数,建立宽带模型。

CM/DM噪声分离

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共模和差模有什么区别?

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假设电源线正极流过的噪声电流为 $I_1$,负极流过的为 $I_2$。那么,差模(DM)电流和共模(CM)电流可以这样分离:

$$ I_\text{DM} = \frac{I_1 - I_2}{2} $$
$$ I_\text{CM} = \frac{I_1 + I_2}{2} $$
🎓

DM噪声主要是由开关器件的ON/OFF产生的电流纹波引起的,在电源的去路和回路中反向流动。而CM噪声是通过开关节点与机壳之间的寄生电容泄漏到大地的电流,在去路和回路中同向流动。

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能举个具体例子吗?

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例如,车载DC-DC转换器中MOSFET开关时,漏极电压会发生急剧变化(如0V→400V)(dv/dt = 数十V/ns)。这个dv/dt通过MOSFET封装与散热片之间的寄生电容(数十pF)产生CM噪声。可以用 $I_\text{CM} = C_\text{stray} \cdot \frac{dv}{dt}$ 来估算。如果是10pF、20V/ns,瞬时泄漏电流可达200mA。

从LISN正负侧测得的电压 $V_+$、$V_-$ 分离CM/DM分量的公式:

$$ V_\text{DM} = \frac{V_+ - V_-}{2} $$
$$ V_\text{CM} = \frac{V_+ + V_-}{2} $$

通常,DM噪声在低频侧(〜数MHz)占主导,而CM噪声在高频侧(数MHz〜30MHz)占主导。滤波器设计中,正确把握这种频率依赖性至关重要。

噪声源建模

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我很关心在仿真中如何对噪声源进行建模。

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开关电源的噪声源模型主要有两种:电压源模型电流源模型。DM噪声可以从梯形波开关电流的FFT表示为等效电流源。梯形波的谐波包络为:

$$ |I_n| = \frac{2 I_\text{pk}}{\pi n} \cdot \left|\frac{\sin(n\pi D)}{1}\right| \cdot \left|\frac{\sin(n\pi f_\text{sw} t_r)}{n\pi f_\text{sw} t_r}\right| $$

其中 $I_\text{pk}$ 是峰值电流,$D$ 是占空比,$f_\text{sw}$ 是开关频率,$t_r$ 是上升时间,$n$ 是谐波次数。

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重要的是,梯形波包络有两个转折点(拐点频率)。第一个转折点 $f_1 = 1/(\pi t_\text{on})$ 处,频谱开始以-20dB/dec衰减;第二个转折点 $f_2 = 1/(\pi t_r)$ 处,变为-40dB/dec。上升时间越快,高频成分越多,因此对于SiC/GaN器件需要特别注意。

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CM噪声源呢?

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CM噪声由开关节点的dv/dt和寄生电容决定,因此使用等效电压源模型。作为戴维南等效电路,将开关节点电压 $V_\text{sw}(t)$ 建模为电压源,并串联寄生阻抗。

$$ I_\text{CM} = C_\text{stray} \cdot \frac{dV_\text{sw}}{dt} $$

滤波器插入损耗理论

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滤波器的插入损耗(IL)怎么计算?

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插入损耗定义为插入滤波器前后LISN端子电压之比:

$$ \text{IL}(f) = 20 \log_{10} \left| \frac{V_\text{LISN,without}(f)}{V_\text{LISN,with}(f)} \right| \quad [\text{dB}] $$
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设计目标如下。首先计算标准限值 $L_\text{limit}(f)$ 与测量值(或仿真值)$V_\text{meas}(f)$ 的差值,再加上裕量:

$$ \text{IL}_\text{required}(f) = V_\text{meas}(f) - L_\text{limit}(f) + \text{Margin} $$

其中裕量通常为6dB(考虑量产偏差和老化)。例如,如果CISPR 25 Class 5的限值为18dBμV,未滤波的仿真值为52dBμV,则所需的IL为 $52 - 18 + 6 = 40\,\text{dB}$。

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40dB的衰减很厉害啊。怎么实现呢?

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一级LC滤波器(L-C)可以提供-40dB/dec的衰减。在截止频率 $f_c$ 以上的频率:

$$ f_c = \frac{1}{2\pi\sqrt{LC}} $$
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例如,如果在150kHz需要40dB的衰减,将 $f_c$ 设定在约15kHz,则通过一级π型LC滤波器即可实现。但实际上,电感的自谐振频率(SRF)和电容的ESL会导致滤波器的高频特性劣化,因此元器件选型非常重要。

Coffee Break 闲谈

工程师追逐“看不见的噪声”的日常

在传导发射对策现场,经常使用“打地鼠”这个词。指的是用滤波器抑制某个频段的噪声时,另一个频段又出现新峰值的现象。这是由于滤波器的自谐振或阻抗失配造成的,对策元件本身可能形成新的噪声路径。经验丰富的EMC工程师都异口同声地说“首先要正确分离CM/DM”。因为误判原因,试图用DM滤波器消除CM噪声,就像感冒却去治疗骨折一样。

CM/DM分离的物理意义
  • $I_\text{DM} = (I_1 - I_2)/2$:差模电流。与电源正常工作电流路径相同(去路→负载→回路)的噪声成分。主要由开关引起的输入电流纹波导致。可通过X电容(线间电容)旁路。
  • $I_\text{CM} = (I_1 + I_2)/2$:共模电流。在去路和回路中同向流动,通过寄生电容返回大地(机壳地)的噪声成分。主要由开关节点的dv/dt和寄生电容导致。通过共模扼流圈(CMC)和Y电容(线-地间电容)抑制。
  • $V_\text{LISN} = Z_\text{LISN} \cdot I_\text{noise}$:LISN规定的50Ω阻抗与噪声电流的乘积,即为频谱分析仪测得的电压。以dBμV表示时,$V_\text{dB\mu V} = 20\log_{10}(V/1\mu\text{V})$。
量纲分析与单位制
变量SI单位注意事项・换算备忘
噪声电压 $V_\text{LISN}$V → dBμV1μV = 0 dBμV。CISPR限值以dBμV表示。
LISN 阻抗 $Z$Ω50Ω/50μH型为标准。也有5Ω/1μH型(用于DC电源)。
寄生电容 $C_\text{stray}$F(pF)MOSFET-散热片间: 10〜100pF。变压器一次-二次间: 5〜50pF。
开关频率 $f_\text{sw}$Hz(kHz)车载DC-DC: 50〜200kHz。服务器电源: 200〜500kHz。
上升时间 $t_r$s(ns)Si-MOSFET: 10〜50ns。SiC: 5〜15ns。GaN: 2〜10ns。

数值解法与实现

SPICE电路建模

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传导发射的仿真,首先从哪里开始呢?

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最基本的是SPICE电路仿真。连接电力转换电路的开关模型 + LISN等效电路 + EMI滤波器这三个要素,进行时域分析(Transient),然后对LISN端子电压波形进行FFT得到频谱。

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进行FFT时有什么注意事项?

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重要的有三点。(1) 窗函数:开关电源是周期信号,必须按开关周期的整数倍截取数据。使用非周期窗会导致频谱泄漏。(2) 时间分辨率:要评估到最高30MHz,根据奈奎斯特定理,至少需要60MHz采样(约16.7ns步长)。实际上100MHz以上更理想。(3) 稳态确认:使用瞬态响应充分收敛后的数据。如果包含启动初期的数据,则无法正确得到稳态频谱。

寄生参数提取

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只用SPICE能保证精度吗?寄生参数什么的让人担心。

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问得好。CE分析的精度几乎取决于寄生参数的准确性。特别重要的是以下四个:

寄生参数影响提取方法典型值
PCB走线电感DM噪声的谐振点3D EM提取(Q3D/FastHenry)5〜20nH/cm
MOSFET-散热片间电容CM噪声的主要路径FEM静电场分析 or 实测10〜100pF
变压器绕组间电容CM耦合路径LCR电桥实测 + FEM模型5〜50pF
电容的ESL滤波器高频特性劣化制造商SPICE模型 or 实测0.5〜5nH
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尤其忽略电容的ESL(等效串联电感)是致命的。例如,一个0.1μF的MLCC(多层陶瓷电容)的ESL为1nH,则其自谐振频率为:

$$ f_\text{SRF} = \frac{1}{2\pi\sqrt{L_\text{ESL} \cdot C}} = \frac{1}{2\pi\sqrt{1 \times 10^{-9} \times 0.1 \times 10^{-6}}} \approx 16\,\text{MHz} $$
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超过SRF后,电容不再表现为容性,而是表现为感性。也就是说,在16MHz以上,滤波电容将失效。这就是如果在SPICE模型中使用理想电容,会导致看不见的bug的原因。

时域与频域的使用区分

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时域分析和频域分析,应该用哪个?

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我来总结一下区分使用的要点。

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