电阻率 — CAE术语解说

电气电阻R是依赖于形状的量（Ω），而电阻率ρ（或电气电阻率）是材料固有的特性量（Ω·m）。关系为 R = ρ·L/A，其中L是长度，A是截面积。铜的ρ ≈ 1.7×10⁻⁸ Ω·m，而硅半导体根据条件可变化在0.001～10000 Ω·m之间。

这是电气和电磁场解析中必不可少的材料常数。用于导体（铜线圈、铝母线）的损耗计算、硅半导体器件解析、石墨电极加热解析等。导体的电阻率随温度变化（铜约0.4%/K），因此高温下的铜线圈损耗计算需要温度相关的电阻率模型。

涡流损耗与ρ成反比，电阻率增加两倍则损耗减半。在电动机铁芯损耗解析中，硅钢板的电气电阻率直接影响结果。忽视温度依赖性会导致常温和高温下损耗变化很大的问题被忽视。准确输入材料数据表中的值是仿真精度的基础。

在TCAD（工艺CAD）器件仿真器中，根据掺杂浓度、迁移率、电场分布计算有效电阻率。Sentaurus（Synopsys）和Atlas（Silvaco）是代表性工具，用于功率半导体的导通电阻和击穿电压的权衡设计。

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