パラメータ設定
材料・環境プリセット
腐食電流密度 icorr
10.0 μA/cm²
腐食電位 Ecorr
-500 mV
陽極Tafelスロープ βa
80 mV/dec
陰極Tafelスロープ βc
120 mV/dec
温度 T
25 °C
pH
7.0
材料物性
原子量 M (g/mol)
55.85
イオン価数 n
2
密度 ρ (g/cm³)
7.87
板厚 / 評価肉厚 (mm)
10.0 mm
—
icorr (μA/cm²)
—
腐食速度 (mm/year)
—
腐食速度 (mpy)
—
貫通予測寿命 (年)
Evansダイアグラム(E vs log|i|)
腐食速度 vs 温度(アレニウス則)
理論式
Butler-Volmer方程式:
$$i = i_{corr}\left[\exp\!\left(\frac{\eta}{\beta_a/\ln10}\right) - \exp\!\left(-\frac{\eta}{\beta_c/\ln10}\right)\right]$$腐食速度(ファラデー則):
$$CR\,[\text{mm/y}] = \frac{3.27 \times M \times i_{corr}}{n \times \rho}$$$i_{corr}$ [μA/cm²]、$M$ [g/mol]、$n$ [価数]、$\rho$ [g/cm³]
CAE連携: 腐食速度はFEMの肉厚減少モデル・残余強度解析の入力値として使用。Evansダイアグラムは電気化学インピーダンス(EIS)解析と組み合わせてLt-DYNAや Abaqusの腐食疲労寿命計算に活用される。