参数设置
线宽 W
mm
线间距 S
mm
基板厚 H
mm
相对介电常数 ε_r
—
采用 IPC-2141A 简化公式（铜厚 T=0、表面微带）。
暂停时，拖动滑块即可即时更新结果。
计算结果
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线宽 W
—
线间距 S
—
单线 Z_0
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差分 Z_diff
—
奇模式 Z_odd
—
偶模式 Z_even
差分信号传播、截面耦合、Z_diff vs S/H
上＝差分信号 V+/V− 传播／中＝截面与耦合电场（线间距 S 越小耦合越强）／下＝Z_diff vs S/H（红＝当前点 / 青＝S 扫描标记）
理论和主要公式
表面微带差分对中，首先计算单线微带的特性阻抗 Z_0，然后应用线间耦合补正得到差分阻抗 Z_diff。
单线微带 Z_0（IPC-2141 简化式，铜厚 T=0）。H 为基板厚，W 为线宽，ε_r 为基板相对介电常数：
$$Z_0 = \frac{87}{\sqrt{\varepsilon_r + 1.41}}\,\ln\!\left(\frac{5.98\,H}{0.8\,W}\right)$$差分阻抗 Z_diff。S 为线间距：
$$Z_\text{diff} = 2\,Z_0\,\bigl(1 - 0.48\,e^{-0.96\,S/H}\bigr)$$奇模式 Z_odd 和偶模式 Z_even：
$$Z_\text{odd} = \tfrac{1}{2}\,Z_\text{diff},\qquad Z_\text{even} = Z_0\,\bigl(1 + 0.48\,e^{-0.96\,S/H}\bigr)$$USB 2.0/3.x 规范 Z_diff = 90Ω，HDMI、SATA、PCIe、1000BASE-T 规范 Z_diff = 100Ω。