回流焊热解析

分类:热分析 | 2026-10-01 改写
CAE visualization for reflow soldering theory - technical simulation diagram
回流焊热解析

理论:各元件升温速度不同

概述

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回流焊后,只有大屏蔽罩下面的焊料没熔透(未熔融)。提高炉温就行了吗?

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提高温度的话,小元件可能反而过热。回流炉中整块板吹的是同样的热风,但元件的热容与表面积之比决定了升温速度。片式元件几秒就跟上热风温度,热容大的屏蔽罩和连接器却要几十秒甚至几分钟。所以问题不是“炉温”,而是“元件之间的温差”。用各元件的时间常数估算,就知道改什么能缩小差距。

各元件的时间常数

$$ \frac{dT}{dt} = \frac{T_{air}(t) - T}{\tau}, \qquad \tau = \frac{m c}{h A} $$

$m$ 为元件质量,$c$ 为比热,$h$ 为热风换热系数,$A$ 为受热表面积。元件温度以时间常数 $\tau$ 的滞后追随热风温度。实际上热量还会通过电路板传递,但要估计元件之间的差异,这个简单模型就够了。

液相线以上时间

$$ t_{AL} = \int \mathbb{1}\left[T(t) > T_{liq}\right] dt, \qquad T_{liq} = 217\,^\circ\mathrm{C}\ (\text{SAC305}) $$

无铅焊料(SAC305)熔点约217 ℃。焊料要充分润湿接合,液相线以上时间(TAL)一般需要几十秒到一分半左右;同时不能超过元件耐热温度(多为260 ℃左右)。把所有元件都控制在这个上下范围内,就是温度曲线设计。

Coffee Break 随笔闲谈

无铅化后变窄的“窗口”

以前的锡铅焊料熔点为183 ℃,与元件耐热温度之间有60 K以上的余量。2006年欧盟RoHS指令实施、限制使用铅之后,熔点约217 ℃的无铅焊料成为主流,余量缩小到30~40 K左右。在混有热容差异很大元件的电路板上,把所有元件纳入这个窄窗口变得困难,炉内温度测量和用热分析设计温度曲线变得重要。

算例:假想温度曲线

热风温度:0~90秒从25升到180 ℃,保持180 ℃到180秒(均热),到240秒升到250 ℃,保持到280秒,然后冷却。元件时间常数为假想值。

元件时间常数峰值温度217 ℃以上时间
小片式元件8 s249.9 ℃77 s
QFP25 s244.8 ℃71 s
大BGA60 s225.5 ℃40 s
重屏蔽罩/连接器120 s192.5 ℃0 s
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重元件连焊料熔点都达不到。

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对,元件之间相差57 K。我们来比较两种对策。

对策比较

变更小元件峰值BGA 217 ℃以上重元件峰值元件间温差
原条件249.9 ℃40 s192.5 ℃57 K
峰值提高到260 ℃259.9 ℃55 s197.4 ℃63 K
峰值保持延长30秒250.0 ℃76 s204.5 ℃46 K

提高峰值温度,小元件逼近260 ℃耐热极限,重元件却只升高5 K,差距反而扩大。延长保持时间,小元件已达热风温度不会再升,只有滞后的元件追上来。要缩小元件温差,“延长”比“提高”有效。若重元件仍达不到熔点,就需要延长预热(均热)使温度一致、增加底部加热或调整元件布局等对策。

分析与测量

步骤

  1. 找出板上热容最大和最小的元件,估计其时间常数。
  2. 在装有热电偶的样板上测量实际温度曲线,校准换热系数和时间常数。
  3. 用整板热分析(板内导热、元件遮挡、传送带速度)预测温度分布。
  4. 选择让所有元件都在TAL和耐热温度范围内的温度曲线。
Coffee Break 随笔闲谈

“同样元件,位置不同结果不同”

同一个BGA放在板上两处,只有一处出现空洞或润湿不良——那个位置旁边有高的连接器挡住热风,处在“阴影”中。元件的时间常数不仅取决于元件本身,还取决于周围元件和板内铜量:铜多的电源层正上方,电路板会吸走热量,升温慢。这类布局造成的差异,用单个元件的简单模型看不出来,需要整板热分析和实测确认。

常见错误

错误与对策

错误后果对策
只提高峰值小元件过热,差距扩大延长高温时间
只测一个点漏掉未熔融或过热测量最大和最小元件
忽略元件遮挡按位置出现不良包含布局分析
忽略板内铜量漏掉难升温的位置计入叠层结构
不确认元件耐热温度元件损坏按最弱元件确定上限
🙋

我想自己计算元件的温度变化。

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可以用集总参数工具算时间常数下的温度变化,用电路板热分析工具看电路板热。相关话题见回流焊仿真和炉内热分析,焊点寿命见焊点可靠性和热膨胀失配。

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