解验证(Solution Verification)

分类:V&V·ASME标准 | 2026-10-01 改写
CAE visualization for solution verification theory - technical simulation diagram
解检验(Solution Verification)

理论:数值解的三种误差

概述

🙋

加密网格求收敛阶,本应二阶却出现一阶甚至负值。是格式有问题吗?

🎓

先别怀疑格式,先怀疑迭代收敛。数值解的误差除了网格造成的离散误差,还有中途截断迭代造成的迭代误差和有限位数造成的舍入误差。加密网格离散误差变小,但收敛判据不变的话迭代误差不会变小,有时反而变大。迭代误差与离散误差相当时,表观阶数就会乱。解验证中要把三者分开,只估计离散误差。

误差分解

$$ \varepsilon_{total} = \varepsilon_{iter} + \varepsilon_{disc} + \varepsilon_{round}, \qquad \varepsilon_{iter} \ll \varepsilon_{disc} $$

用网格比较估计离散误差,前提是迭代误差和舍入误差足够小。

算例问题

$$ p_{obs} = \frac{\ln\left(e_{2h}/e_h\right)}{\ln 2}, \qquad -u'' = \pi^2\sin(\pi x),\ \ u = \sin(\pi x) $$

用二阶中心差分求解,由网格间距减半时的误差比求表观阶数 $p_{obs}$。计算正确时应接近2。

Coffee Break 随笔闲谈

区分“验证”与“确认”

直到20世纪90年代,讨论计算可信度时常把计算是否正确求解方程(验证)与方程是否正确描述现实(确认)混为一谈。Roache在1998年的书中明确区分了两者,又把验证分为确认程序正确性的“代码验证”和估计单个计算误差的“解验证”。这一框架后来成为ASME V&V标准的骨架。不先通过解验证把握数值误差,与实验比较时看到的差异就无法分清是模型造成还是数值造成的。

算例

例1:迭代收敛判据的影响

用Gauss-Seidel法改变停止条件(残差降到初值的多少分之一),求网格加密时的最大误差和表观阶数:

收敛判据10分20分(阶数)40分(阶数)80分(阶数)
10⁻³7.3×10⁻³1.1×10⁻³ (2.77)4.8×10⁻⁴ (1.16)8.7×10⁻⁴ (−0.85)
10⁻⁶8.3×10⁻³2.1×10⁻³ (2.01)5.1×10⁻⁴ (2.00)1.3×10⁻⁴ (2.01)
10⁻¹⁰8.3×10⁻³2.1×10⁻³ (2.01)5.1×10⁻⁴ (2.00)1.3×10⁻⁴ (2.00)

80分收敛到10⁻⁶约需9,000次迭代,到10⁻¹⁰约需15,000次。网格越细,达到同样判据所需迭代越多。

例2:单精度舍入误差

分段数双精度误差单精度误差
405.1×10⁻⁴5.1×10⁻⁴
1603.2×10⁻⁵3.7×10⁻⁵
6402.0×10⁻⁶1.5×10⁻⁴
2,5601.3×10⁻⁷3.6×10⁻³
10,2407.9×10⁻⁹0.45
🙋

单精度时,网格越细误差越大!

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加密网格会使差分公式中相近值相减的次数增多,每次都损失有效位数。单精度只有约7位有效数字,超过某一细度后舍入误差就超过离散误差。双精度约有16位,本问题中到细得多的网格都没问题。实际的CFD和结构计算以双精度为基本,但在GPU上为速度用单精度时要注意。加密网格结果却没变好甚至变差时,要怀疑舍入误差。

解验证步骤

  1. 同时用残差和关心量(阻力、温度等)的变化确认收敛。
  2. 把收敛判据收紧一个数量级确认结果不变,估计迭代误差。
  3. 用三级以上网格和GCI等估计离散误差。
  4. 非稳态时也同样改变时间步长确认。
  5. 用双精度计算,确认舍入误差没有影响。
Coffee Break 随笔闲谈

“网格越细结果越差”

某热流体计算研究网格依赖性,到中等网格结果都趋于稳定,最细网格却突然偏离。最细网格没有增加迭代次数,在同样时间就停止了计算,残差下降不够。继续迭代使残差再降两个数量级后,最细网格的结果也归队了。研究网格依赖性的铁则是:先确认每套网格迭代充分收敛再比较。

常见错误

错误与对策

错误后果对策
各网格迭代次数相同细网格未收敛按残差判断
只看残差关心量未稳定也监控关心量
单精度用细网格舍入误差使结果变差双精度
只用两套网格判断无法确认阶数三级以上
时间步长固定不变残留时间方向误差也改变时间步长
🙋

我想了解相关内容。

🎓

可以用Richardson外推工具试算阶数。相关页面参考Roache的GCI、三网格GCI、代码验证、构造解方法和ASME V&V 20。

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